CC1101Q1EMK433 CC1101Q1 评估模块套件

CC1101Q1EMK433 评估套件可与 CC1101 开发套件 (CC1101DK433) 配合使用，旨在实现 CC11x1-Q1 器件系列的性能，并且可以用于：

CC11x1-Q1 产品评估：开包即用，用户可以使用 SmartRF®04DK 来执行范围测试（分组差错率 (PER) 测试）并将数据从一台 PC 传输到另一台 PC。这使用户能够了解 CC11x1-Q1 产品对目标应用的适用程度。许多示例应用都体现了 CC11x1-Q1 IC 创新功能的重要作用。
射频测量：借助 SmartRF® Studio PC 软件，用户可以使用适合目标应用的参数来配置射频器件，并轻松测量敏感度、输出功率或其它射频参数。
原型开发：SmartRF®04DK 包含一个 Silicon Labs 8051 内核 MCU，后者具有 16kB 程序存储器和 1kB 数据存储器。通过对此 MCU 进行编程并利用评估板中包含的各种外设，用户可以轻松开发出特定应用的原型。所有信号均汇集在 0.1" 引脚行连接器上，便于轻松与其它所需电路相连。这些连接器还与 Agilent 逻辑分析器探针兼容，便于轻松调试。用户可以断开 Silicon Labs MCU 与 EVM 板的连接，然后将其选择的 MCU 连接至 I/O 连接器。

由于 CC1101-Q1 器件包含 CC1131-Q1 和 CC1151-Q1 器件的所有功能，因此这些器件无需单独的评估模块。

CC1101Q1EMK433 电路板是附加子板，它们需要 SmartRF®04DK（包含在 CC1101DK433 中）才可进行评估和开发。

这些电路板还可以与两个 MSP430FG4618/F2013 试验板配合使用，以便使用 MSP430 进行软件开发、原型设计和测试。

完整的评估套件包含：