AD585是一款完整的单芯片采样保持电路,由高性能运算放大器、超低泄漏模拟开关和FET输入积分放大器串联组成。内部保持电容和匹配的应用电阻提供高精度特性和应用灵活性
高速10位和12位数据采集系统要求快速采集时间、低采样保持失调和低下降率,AD585堪称理想之选。它能以±0.01%的精度在最长3 µs时间内采集一个信号,然后利用片内保持电容保持该信号,最大采样保持失调为3 mV,下降率低于1 mV/ms。如果需要更低的下降率,可以外加一个更大的保持电容。
AD585采用的高速模拟开关孔径抖动为0.5 ns,因此能以12位分辨率采集频率最高达78 kHz的满量程(20 V峰峰值)信号。
在采样模式下,AD585可以利用任何用户定义的反馈网络提供所需的任何增益。片内精密薄膜电阻可用于提供+1、-1或+2的增益。保持模式下的输出阻抗足够低,即使驱动逐次逼近型ADC所提供的动态负载时,也能保持精确的输出信号。不过输出端具有保护功能,能够防止意外短路损坏器件。
HOLD命令的控制信号可以是高电平有效或低电平有效。如果提供合适的参考电平,差分HOLD信号可以兼容所有逻辑系列。片内TTL参考电平用于兼容TTL。
AD585按性能分为三级。JP级的额定温度范围为0°C至+70°C商用温度范围,采用20引脚PLCC封装。AQ级的额定温度范围为-25°C至+85°C工业温度范围,采用14引脚cerdip封装。SQ和SE级的额定温度范围为-55°C至+125°C军用温度范围,采用14引脚cerdip和20引脚LCC封装。
产品特点和性能优势–55°C to +125°C | 放大器 |
文档 | 备注 |
AD585: Complete Monolithic SHA Circuit Data Sheet (Rev. A) | PDF 339 kB |
AD585: Military Data Sheet |
产品型号 | 封装 | 包装数量 | 温度范围 | 美金报价 100-499 | 美金报价 1000+ | RoHS |
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5962-87540012A 量产 | LCC:CER LEADLESS CHIP CARR | OTH 54 | -55 至 125至 | 87.73 | 79.29 | N |
5962-8754001CA 量产 | 14 ld CerDIP | OTH 25 | -55 至 125至 | 92.75 | 83.83 | N |
AD585ACHIPS 量产 | CHIPS OR DIE | REEL 100 | 25至 | 11.33 | 11.33 | Y |
AD585AQ 量产 | 14 ld CerDIP | OTH 25 | -25 至 85至 | 24.67 | 22.33 | N |
AD585JP 量产 | 20 ld PLCC | OTH 49 | 0 至 70至 | 22.58 | 20.41 | N |
AD585JP-REEL 量产 | 20 ld PLCC | REEL 1000 | 0 至 70至 | 0 | 20.41 | N |
AD585JP-REEL7 联络ADI | 20 ld PLCC | REEL 250 | 0 至 70至 | 0 | 0 | N |
AD585JPZ 量产 | 20 ld PLCC | OTH 49 | 0 至 70至 | 20.57 | 18.6 | Y |
AD585JPZ-REEL7 量产 | 20 ld PLCC | REEL 250 | 0 至 70至 | 0 | 18.6 | Y |
AD585SCHIPS 量产 | CHIPS OR DIE | REEL 100 | 25至 | 40.45 | 40.45 | Y |
AD585SE 量产 | LCC:CER LEADLESS CHIP CARR | OTH 54 | -55 至 125至 | 65.79 | 59.44 | Y |
AD585SE/883B 量产 | LCC:CER LEADLESS CHIP CARR | OTH 54 | -55 至 125至 | 88.75 | 80.21 | N |
AD585SQ 量产 | 14 ld CerDIP | OTH 25 | -55 至 125至 | 68.24 | 61.71 | N |
AD585SQ/883B 量产 | 14 ld CerDIP | OTH 25 | -55 至 125至 | 88.72 | 80.2 | N |